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机译:微电子学中影响热超声键合的界面现象的研究
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机译:铝金属化上热超声金丝键合的TEM界面特性
机译:微电子封装中导线和导线键合的确定性和概率热疲劳模型之间的比较。
机译:微电子封装中AuPd包覆的Cu和Pd掺杂的Cu线的比较可靠性研究和分析
机译:热超声球键合:键合机理和界面演化的研究
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