机译:基于同步辐射的x射线微探针技术在分析Si / SiGe错配位错处沉淀的金属的复合活性中的应用
Silicon; Semiconductor; Contamination;
机译:基于同步辐射的x射线微探针技术在分析Si / SiGe错配位错处沉淀的金属的复合活性中的应用
机译:激光微探针质谱(LAMMS)在添加Ti的超低碳钢中非金属夹杂物和沉淀物状态分析中的应用
机译:HREM中图像反卷积技术确定SiGe / Si异质结构中错配位错复合体
机译:在SiGe / Si和SiGe / Ge异质结构中形成三维错配脱位网络
机译:双曲云母衍射及其在X射线微探针荧光和显微分析中的应用
机译:金属/氧化物界面错位处的大规模界面重建
机译:激光微肺质谱(LAMMS)在Ti加入超低碳钢中施加非金属夹杂物的状态分析,沉淀物。
机译:siGe / si异质结构中空穴与失配位错的相互作用