机译:用Rutherford反散射和氧共振散射研究MEV SI +注入的LINBO3晶体的损伤特征
Ion-implantation; Silicon; Range;
机译:用Rutherford反散射和氧共振散射研究MEV SI +注入的LINBO3晶体的损伤特征
机译:离子注入掺Er3 +的LiNbO3平面波导的光致发光和Rutherford背散射光谱研究
机译:离子的卢瑟福背向散射光谱和140keV H(2)(+)离子辐照的GaS单晶中的光的拉曼散射光谱
机译:离子植入的比较研究引起了光谱椭圆形测定法和Rutherford反向散射光谱法研究的多晶和单晶硅中的损伤深度曲线
机译:使用原子序数对比扫描透射电子显微镜和卢瑟福背散射光谱技术对硒化镉纳米晶体系统进行原子能级表征。
机译:MgO和Bi2O3共掺杂LiNbO3晶体同时增强光折变和抗光学损伤性
机译:用6MeV XE23 +照射LINBO3晶体的损伤机理和电弹性稳定性