机译:在商用CMOS技术中研究总电离剂量辐射对封闭式栅极晶体管的影响
MOS transistors; radiation effects; total dose; layout; OXIDE ISOLATION STRUCTURES; CHANNEL EDGES; FIELD; DEVICES; ENVIRONMENTS; DEPENDENCE; CIRCUITS; HARDNESS; ENERGY; CHARGE;
机译:在商用CMOS技术中研究总电离剂量辐射对封闭式栅极晶体管的影响
机译:总电离剂量辐射对先进的体CMOS技术器件中NMOS寄生晶体管的影响
机译:商业180nm CMOS技术中晶体管的总电离剂量硬度分析
机译:总电离剂量辐照对CMOS技术的影响以及使用设计技术减轻总剂量效应
机译:用于CMOS混合信号电路的总电离剂量辐射效应的分层仿真方法。
机译:全身电离辐射对肌肉干细胞的时间和剂量依赖性
机译:在高达1级的28 nm Hi-K金属栅CMOS技术上的总电离剂量效应