机译:使用新的在线PDO方法评估超薄栅氧化物pMOSFET的负偏置温度不稳定性
negative bias temperature instability; proportional differential operator; degradation; INTERFACE STATE GENERATION; DEEP-SUBMICRON PMOSFETS; HIGH ELECTRIC-FIELDS; NBTI DEGRADATION; MOS DEVICES; MOSFETS; STRESS; MECHANISM;
机译:使用新的在线PDO方法评估超薄栅氧化物pMOSFET的负偏置温度不稳定性
机译:使用新的在线PDO方法评估超薄栅极氧化物pMOSFET的负偏置温度不稳定性
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