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机译:使用Ga +和C-60(+)离子束对聚合物样品进行深度分析
C-60; ToF-SIMS; depth profiling; polyatomic projectiles; PMMA; PS; MASS-SPECTROMETRY; IMPACT ENERGY; THIN-FILMS; TOF-SIMS; PROJECTILES; SURFACE; YIELD; POLYSTYRENE; BOMBARDMENT; DAMAGE;
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