机译:聚合物材料的双束深度剖析:用于溅射的C _(60)和Ar簇离子束的比较(会议论文)
Ar clusters; Bi_n; C_(60); dual beam mode; organic depth profiling; polymers; TOF-SIMS; total sputter yield;
机译:聚合物材料的双束深度剖析:用于溅射的C _(60)和Ar簇离子束的比较(会议论文)
机译:使用C_(60)溅射离子束对SiO_2玻璃中Na进行飞行时间SIMS深度分析(会议论文)
机译:双束溅射进行分子深度分析的研究(会议论文)
机译:使用XPS和使用氩簇离子束进行软深度轮廓分析来增强有机和无机材料的表面和深度表征
机译:使用ToF-SIMS和簇离子束进行分子深度分析和楔形坑斜切
机译:使用大型氩团簇离子束的双束有机深度分析
机译:用AR簇离子束模拟有机材料的深度分析