METODA PRZYGOTOWANIA POWIERZCHNI WALECZKOW LOZYSKOWYCH DO PROCESU AUTOMATYCZNEJ OPTYCZNEJ INSPEKCJI

摘要

W artykule przedstawiono metode przygotowania zanieczyszczonej powierzchni czol waleczkow lozyskowych do procesu automatycznej optycznej inspekcji (AOI). Opracowana metoda jest przydatna w procesie automatyzacji czyszczenia powierzchni przed procesem AOI. Metoda umozliwia bezstykowe, wydajne i niezawodne usuwanie zanieczyszczen pochodzacych z procesu technologicznego. Artykul omawia zalozenia funkcjonalne oraz przemyslowa implementacje i weryfikacje metody.