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Symposium on nondestructive methods for materials characterization
Symposium on nondestructive methods for materials characterization
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1.
Characterization of copper surfaces used in electronic circuit boards by reflectance FT-IR
机译:
反射率FT-IR中电子电路板中使用的铜表面的特征
作者:
James M. Sloan
;
Clarles G. Pergantis
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
2.
Photoelastic imaging of process induced defects in 300 mm-silicon wafers
机译:
过程诱导300毫米硅晶片缺陷的光弹性成像
作者:
H. D. Geiler
;
W. Kurner
;
O. Storbeck
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
3.
X-ray microtomography of fatigue crack closure as a function of applied load in Al-Li 2090 T8E41 samples
机译:
疲劳裂纹闭孔X射线微图案作为Al-Li 2090 T8E41样品中施加负荷的函数
作者:
R. Morano
;
S. R. Stock
;
G. R. Davis
;
J. C. Elliott
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
4.
Nondestructive measurement of in-plane residual stress in silicon strips
机译:
硅条中平面内残余应力的无损测量
作者:
Tieyu Zheng
;
Steven Danyluk
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
5.
Characterization of Ni-and Ni(PT)-silicide formation on narrow polycrystalline Si lines by raman spectroscopy
机译:
拉曼光谱法在窄多晶Si线上的Ni-and(Pt) - 硅片形成的表征
作者:
P. S. Lee
;
D. Mangelinck
;
K. L. Pey
;
J. Ding
;
T. Osipowicz
;
C. S. Ho
;
G. L. Chen
;
L. Chan
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
6.
In-situ spectroscopic ellipsometry for the real time process control of plasma etching of silicon nitride
机译:
原位光谱椭圆型测定法,用于氮化硅等离子体蚀刻的实时过程控制
作者:
I. G. Rosen
;
T. Parent
;
B. Fidan
;
A. Madhukar
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
7.
Interfacial diffusion in a MOCVD grown barium titanate film
机译:
MOCVD种植钛酸钡膜中的界面扩散
作者:
A Datta
;
Soma Chattopadhyay
;
A. G. Richter
;
J. Kmetko
;
C. B. Lee
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
8.
Infrared evaluation of heat generation during the cyclic deformation of a cellular Al alloy
机译:
细胞Al合金循环变形期间的发热红外评价
作者:
A. Rabiei
;
J. W. Hutchinson
;
A. G. Evans
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
9.
The role of structure-to-property-relationships in materials characterization
机译:
结构与财产关系在材料表征中的作用
作者:
W. Morgner
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
10.
Quantitative contract spectroscopy and imaging by atomic-force acoustic microscopy
机译:
用原子力声学显微镜测量合同光谱和成像
作者:
W. Arnold
;
S. Amelio
;
S. Hirsekorn
;
U. Rabe
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
11.
Electrically based non-destructive microstructural characterization of all classes of materials
机译:
所有类别类别的电气基于非破坏性微观结构表征
作者:
Rosario A. Gerhardt
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
12.
Optimization of x-ray techniques for nondestructive characterization of single crystal turbine blades
机译:
单晶涡轮叶片无损表征X射线技术的优化
作者:
J. M. Winter
;
Jr
;
K. G. Lipetzky
;
R. E. Green
;
Jr
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
13.
In-situ observation of oxidization process at the most upper surfaces by x-ray surface propagation waves
机译:
X射线表面传播波原位观察最高表面的氧化过程
作者:
Toshihisa Horiuchi
;
Kenji Ishida
;
Kazumi Matsushige
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
14.
Raman characterization of composition and strain in Si{sub}(1-x)Ge{sub}x/Si heterostructures
机译:
Si {sub}(1-x)Ge {sub} x / si异质结构的组成和应变的拉曼表征
作者:
Ran Liu
;
B. Tillack
;
P. Zaumseil
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
15.
Nondestructive evaluation of fatigue in titanium alloys
机译:
钛合金疲劳的无损评价
作者:
H. Rosner
;
N. Meyendorf
;
S. Sathish
;
T. E. Matikas
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
16.
Method and instrumentation for nondestructive characterization of surface area and pore size distribution of thin-films in their deposited state
机译:
其沉积状态下表面积与薄膜孔径分布的非破坏性表征的方法和仪表
作者:
E. S. Boltz
;
Y. H. Spooner
;
S. G. Albanna
;
D. J. Taylor
;
A. R. Stallings
;
J. P. Abeyta
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
17.
Dual band infrared thermography as a NDT tool for the characterization of the building materials and conservation performance in historic structures
机译:
双频带红外热成像作为NDT工具,用于表征建筑材料和历史结构中的保护性能
作者:
A. Moropoulou
;
N. P. Avdelidis
;
M. Koui
;
N. K. Kanellopoulos
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
18.
Characterization of hydrogen in concrete by cold neutron prompt gamma-ray activation analysis and neutron incoherent scattering
机译:
冷中子促进γ射线激活分析和中子非连贯散射混凝土氢的表征
作者:
Rick L. Paul
;
H. Heather Chen-Mayer
;
Richard M. Lindstrom
;
Menno Blaauw
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
19.
Precise determination of thin metal thickness with laser-induced acoustic grating technique
机译:
具有激光诱导声光栅技术的精确测定薄金属厚度
作者:
A. A. Maznev
;
M. J. Banet
;
M. Gostein
;
R. B. Hanselman
;
M. A. Joffe
;
R. Sacco
;
K. A. Nelson
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
20.
Quantitative measurement of local carries concentration of semiconductor from displacement current-voltage curve using a scanning vibrating tip
机译:
使用扫描振动尖端从位移电流 - 电压曲线上定量测量半导体浓度
作者:
Yutaka Majima
;
Yutaka Oyama
;
Mitsumasa Iwamoto
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
21.
Non-destructive evaluation of mechanical properties of magnetic materials
机译:
无损评价磁性材料的机械性能
作者:
Kevin P. Kankolenski
;
Susan Z. Hua
;
David
;
X. Yang
;
G. E. Hicho
;
L. J. Swartzendruber
;
Z. Zang
;
Harsh Deep Chopra
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
22.
IR tomography of the lifetime and diffusion length of charge carriers in semiconductor silicon ingots
机译:
半导体硅锭芯片载体的寿命和扩散长度的IR层析成像
作者:
V. D. Akhmetov
;
N. V. Fateev
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
23.
Small signal ac-surface photovoltage technique for non-contact monitoring of near surface doping and recombination generation in the depletion layer
机译:
小信号交流表面光电电压技术,用于耗尽层附近的近表面掺杂和重组产生的非接触监测
作者:
D. Marinskiy
;
J. Lagowski
;
M. Wilson
;
A. Savtchouk
;
L. Jastrzebski
;
D. DeBusk
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
24.
Nonlinear ultrasonic parameter in precipitate-hardened steels
机译:
沉淀 - 硬化钢中的非线性超声参数
作者:
D. C. Hurley
;
D. Balzer
;
P. T. Purtscher
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
25.
Thermal penetration times as a nondestructive measure of orientation in polyimide film
机译:
热渗透时间作为聚酰亚胺膜中取向的无损措施
作者:
C. Chandler
;
N. E. Mathis
;
R. J. Samuels
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
26.
Nondestructive characterization of GaN films grown at low and high temperatures
机译:
低温和高温生长的GaN薄膜的无损表征
作者:
C. H. Yan
;
H. W. Yao
;
J. M. Van Hove
;
A. M. Wowchak
;
P. P. Chow
;
J. Han
;
J. M. Zavada
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
27.
Real-time monitoring of acoustic linear and nonlinear behavior of titanium alloys during cyclic loading
机译:
循环载荷期间钛合金声学线性和非线性行为的实时监测
作者:
J. Frouin
;
J. Maurer
;
S. Sathish
;
D. Eylon
;
J. K. Na
;
T. E. Matikas
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
28.
Microscopic techniques for characterization of magnetic layers
机译:
磁性层表征的微观技术
作者:
N. Meyendorf
;
I. Altpeter
;
U. Netzelmann
;
J. Hoffmann
;
W. Nichtl-Pecher
;
H. Grimm
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
29.
Three-dimensional, nondestructive imaging of low density materials
机译:
低密度材料的立体,无损成像
作者:
J. H. Kinney
;
D. L. Haupt
;
J. D. Lemay
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
30.
Giant magnetoresistance imaging for NDE of conductive materials
机译:
导电材料NDE的巨型磁阻成像
作者:
E. S. Boltz
;
S. G. Albanna
;
A. R. Stallings
;
Y. H. Spooner
;
J. P. Abeyta
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
31.
In-situ spectroscopic ellipsometry for the real time process control of plasma etching of silicon nitride
机译:
原位光谱椭圆型测定法,用于氮化硅等离子体蚀刻的实时过程控制
作者:
I.G.Rosen
;
T.Parent
;
B.Fidan
;
A.Madhukar
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
32.
High-frequency stroboscopic x-ray topography under surface acoustic wave excitation
机译:
表面声波激励下的高频频道X射线地形
作者:
E. Zolotoyabko
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
33.
Precise determination of thin metal film thickness with laser-induced acoustic grating technique
机译:
具有激光诱导声光栅技术的精确测定薄金属膜厚度
作者:
A.A.Maznev
;
M.J.Banet
;
M.Gostein
;
R.B.Hanselman
;
M.a.Joffe
;
R.Sacco
;
K.A.Nelson
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
34.
Non-destructive dielectric assessment of water permeation in composite structures
机译:
复合结构中水渗透的非破坏性介电评估
作者:
P. Boinard
;
E. Boinard
;
R. A. Pethrick
;
W. M. Banks
;
R. L. Crane
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
35.
Impedance spectroscopy investigation on the low-temperature degradation of tetragonal zirconia: influence of measurement conditions
机译:
阻抗光谱研究四方氧化锆的低温降解:测量条件的影响
作者:
A. P. Santos
;
R. Z. Domingues
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
36.
Development of nondestructive method or prediction of crack inst ability
机译:
开发非破坏性方法或裂缝INST能力的预测
作者:
J.L.Schroeder
;
D.Eylon
;
E.B.Shell
;
T.E.Matikas
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
37.
Monitoring silicon quality from diffusion furnaces using in-line measurements
机译:
使用在线测量从扩散炉监测硅质量
作者:
Matt Stoker
;
Kelvin Catmull
;
Greg Horner
;
Brian Letherer
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
38.
IN situ spectroscopic ellipsometry study of the oxide etching and surface damaging processes on silicon under hydrogen plasma
机译:
在氢等离子体下氧化物蚀刻和表面损伤过程的原位光谱椭圆形研究
作者:
I. M. Vargas
;
J. Y. Manso
;
J. R. Guzman
;
B. R. Weiner
;
G. Morell
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
39.
Development of nondestructive method for prediction of crack instability
机译:
非破坏性裂缝不稳定预测的开发方法
作者:
J. L. Schroeder
;
D. Eylon
;
E. B. Shell
;
T. E. Matikas
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
40.
Image-guided failure assessment of porous materials
机译:
多孔材料的图像导向失效评估
作者:
M. Tantillo
;
R. Muller
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
41.
Experimental simulation of contamination arising from Electro rocket engine-jet on surface of spacecraft units
机译:
扫射机组射流污染污染的实验模拟
作者:
A. Chirov
;
A. Nadiradze
;
V. Shaposhnikov
;
V. Egorov
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
42.
IRS and ESR characterizations of nanocomposite thin films derived from alkanethiolates and gold nanoparticles
机译:
纳米复合薄膜的IRS和ESR表征衍生的链烷醇酯和金纳米粒子
作者:
W. X. Zheng
;
F. L. Leibowitz
;
M. M. Maye
;
D. C. Gilbert
;
D. C. Doetschman
;
C. J. Zhong
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
43.
Characterization of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces
机译:
氮化硅二氧化硅界面的表征
作者:
M. L. Polignano
;
M. Alessandri
;
D. Brazzelli
;
B. Crivelli
;
G. Ghidini
;
R. Zonca
;
A. P. Caricato
;
M. Bersani
;
M. Sbetti
;
L. Vanzetti
;
G. C. Xing
;
G. E. Miner
;
N. Astici
;
S. Kuppurao
;
D. Lopes
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
44.
Non-destructive evaluation of 304 stainless steels using a scanning hall-sensor microscope: visualization of strain induced austenite-phase breakdown
机译:
使用扫描霍尔传感器显微镜的304个不锈钢的无损评估:应变诱导奥氏体相位分解的可视化
作者:
A. Oota
;
K. Miyake
;
D. Sugiyama
;
H. Aoki
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
45.
Scanning acoustic microscopy and x-ray diffraction investigation of near crack tip stresses
机译:
扫描声学显微镜和近裂纹尖端应力的X射线衍射研究
作者:
S. Sathish
;
R. W. Martin
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
46.
Nondestructive characterization of corrosion protective coatings on aluminum alloy substrates
机译:
铝合金基材上腐蚀防护涂层的无损特征
作者:
J. Hoffmann
;
S. Sathish
;
M. Khobaid
;
N. Meyendorf
;
U. Netzelmann
;
T. E. Matikas
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
47.
Nondestructive damage evaluation of electro-mechanical components using a hybrid, computational and experimental approach
机译:
使用杂交,计算和实验方法的机电部件无损损伤评估
作者:
C. Furlong
;
R. J. Pryputniewicz
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
48.
In-situ monitoring of MOCVD of aluminum nitride by optical spectroscopies
机译:
光谱法的原位监测氮化铝MOCVD
作者:
S. C. Allen
;
H.H. Richardson
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
49.
Real-time optical characterization and control of heteroepitaxial Ga{sub}xIn{sub}(1-x)P growth by P-polarized reflectance
机译:
异室沟{Sub} Xin {Sub}(1-x)P增长的实时光学表征和控制通过P偏振反射
作者:
N. Dietz
;
K. Ito
;
I. Lauko
;
V. Woods
会议名称:
《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》
|
2000年
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