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Symposium on nondestructive methods for materials characterization

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1.Characterization of copper surfaces used in electronic circuit boards by reflectance FT-IR

机译：反射率FT-IR中电子电路板中使用的铜表面的特征
- 作者：James M. Sloan;Clarles G. Pergantis
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
2.Photoelastic imaging of process induced defects in 300 mm-silicon wafers

机译：过程诱导300毫米硅晶片缺陷的光弹性成像
- 作者：H. D. Geiler;W. Kurner;O. Storbeck
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
3.X-ray microtomography of fatigue crack closure as a function of applied load in Al-Li 2090 T8E41 samples

机译：疲劳裂纹闭孔X射线微图案作为Al-Li 2090 T8E41样品中施加负荷的函数
- 作者：R. Morano;S. R. Stock;G. R. Davis;J. C. Elliott
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
4.Nondestructive measurement of in-plane residual stress in silicon strips

机译：硅条中平面内残余应力的无损测量
- 作者：Tieyu Zheng;Steven Danyluk
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
5.Characterization of Ni-and Ni(PT)-silicide formation on narrow polycrystalline Si lines by raman spectroscopy

机译：拉曼光谱法在窄多晶Si线上的Ni-and（Pt） - 硅片形成的表征
- 作者：P. S. Lee;D. Mangelinck;K. L. Pey;J. Ding;T. Osipowicz;C. S. Ho;G. L. Chen;L. Chan
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
6.In-situ spectroscopic ellipsometry for the real time process control of plasma etching of silicon nitride

机译：原位光谱椭圆型测定法，用于氮化硅等离子体蚀刻的实时过程控制
- 作者：I. G. Rosen;T. Parent;B. Fidan;A. Madhukar
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
7.Interfacial diffusion in a MOCVD grown barium titanate film

机译：MOCVD种植钛酸钡膜中的界面扩散
- 作者：A Datta;Soma Chattopadhyay;A. G. Richter;J. Kmetko;C. B. Lee
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
8.Infrared evaluation of heat generation during the cyclic deformation of a cellular Al alloy

机译：细胞Al合金循环变形期间的发热红外评价
- 作者：A. Rabiei;J. W. Hutchinson;A. G. Evans
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
9.The role of structure-to-property-relationships in materials characterization

机译：结构与财产关系在材料表征中的作用
- 作者：W. Morgner
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
10.Quantitative contract spectroscopy and imaging by atomic-force acoustic microscopy

机译：用原子力声学显微镜测量合同光谱和成像
- 作者：W. Arnold;S. Amelio;S. Hirsekorn;U. Rabe
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
11.Electrically based non-destructive microstructural characterization of all classes of materials

机译：所有类别类别的电气基于非破坏性微观结构表征
- 作者：Rosario A. Gerhardt
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
12.Optimization of x-ray techniques for nondestructive characterization of single crystal turbine blades

机译：单晶涡轮叶片无损表征X射线技术的优化
- 作者：J. M. Winter;Jr;K. G. Lipetzky;R. E. Green;Jr
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
13.In-situ observation of oxidization process at the most upper surfaces by x-ray surface propagation waves

机译：X射线表面传播波原位观察最高表面的氧化过程
- 作者：Toshihisa Horiuchi;Kenji Ishida;Kazumi Matsushige
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
14.Raman characterization of composition and strain in Si{sub}(1-x)Ge{sub}x/Si heterostructures

机译：Si {sub}（1-x）Ge {sub} x / si异质结构的组成和应变的拉曼表征
- 作者：Ran Liu;B. Tillack;P. Zaumseil
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
15.Nondestructive evaluation of fatigue in titanium alloys

机译：钛合金疲劳的无损评价
- 作者：H. Rosner;N. Meyendorf;S. Sathish;T. E. Matikas
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
16.Method and instrumentation for nondestructive characterization of surface area and pore size distribution of thin-films in their deposited state

机译：其沉积状态下表面积与薄膜孔径分布的非破坏性表征的方法和仪表
- 作者：E. S. Boltz;Y. H. Spooner;S. G. Albanna;D. J. Taylor;A. R. Stallings;J. P. Abeyta
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
17.Dual band infrared thermography as a NDT tool for the characterization of the building materials and conservation performance in historic structures

机译：双频带红外热成像作为NDT工具，用于表征建筑材料和历史结构中的保护性能
- 作者：A. Moropoulou;N. P. Avdelidis;M. Koui;N. K. Kanellopoulos
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
18.Characterization of hydrogen in concrete by cold neutron prompt gamma-ray activation analysis and neutron incoherent scattering

机译：冷中子促进γ射线激活分析和中子非连贯散射混凝土氢的表征
- 作者：Rick L. Paul;H. Heather Chen-Mayer;Richard M. Lindstrom;Menno Blaauw
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
19.Precise determination of thin metal thickness with laser-induced acoustic grating technique

机译：具有激光诱导声光栅技术的精确测定薄金属厚度
- 作者：A. A. Maznev;M. J. Banet;M. Gostein;R. B. Hanselman;M. A. Joffe;R. Sacco;K. A. Nelson
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
20.Quantitative measurement of local carries concentration of semiconductor from displacement current-voltage curve using a scanning vibrating tip

机译：使用扫描振动尖端从位移电流 - 电压曲线上定量测量半导体浓度
- 作者：Yutaka Majima;Yutaka Oyama;Mitsumasa Iwamoto
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
21.Non-destructive evaluation of mechanical properties of magnetic materials

机译：无损评价磁性材料的机械性能
- 作者：Kevin P. Kankolenski;Susan Z. Hua;David;X. Yang;G. E. Hicho;L. J. Swartzendruber;Z. Zang;Harsh Deep Chopra
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
22.IR tomography of the lifetime and diffusion length of charge carriers in semiconductor silicon ingots

机译：半导体硅锭芯片载体的寿命和扩散长度的IR层析成像
- 作者：V. D. Akhmetov;N. V. Fateev
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
23.Small signal ac-surface photovoltage technique for non-contact monitoring of near surface doping and recombination generation in the depletion layer

机译：小信号交流表面光电电压技术，用于耗尽层附近的近表面掺杂和重组产生的非接触监测
- 作者：D. Marinskiy;J. Lagowski;M. Wilson;A. Savtchouk;L. Jastrzebski;D. DeBusk
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
24.Nonlinear ultrasonic parameter in precipitate-hardened steels

机译：沉淀 - 硬化钢中的非线性超声参数
- 作者：D. C. Hurley;D. Balzer;P. T. Purtscher
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
25.Thermal penetration times as a nondestructive measure of orientation in polyimide film

机译：热渗透时间作为聚酰亚胺膜中取向的无损措施
- 作者：C. Chandler;N. E. Mathis;R. J. Samuels
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
26.Nondestructive characterization of GaN films grown at low and high temperatures

机译：低温和高温生长的GaN薄膜的无损表征
- 作者：C. H. Yan;H. W. Yao;J. M. Van Hove;A. M. Wowchak;P. P. Chow;J. Han;J. M. Zavada
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
27.Real-time monitoring of acoustic linear and nonlinear behavior of titanium alloys during cyclic loading

机译：循环载荷期间钛合金声学线性和非线性行为的实时监测
- 作者：J. Frouin;J. Maurer;S. Sathish;D. Eylon;J. K. Na;T. E. Matikas
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
28.Microscopic techniques for characterization of magnetic layers

机译：磁性层表征的微观技术
- 作者：N. Meyendorf;I. Altpeter;U. Netzelmann;J. Hoffmann;W. Nichtl-Pecher;H. Grimm
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
29.Three-dimensional, nondestructive imaging of low density materials

机译：低密度材料的立体，无损成像
- 作者：J. H. Kinney;D. L. Haupt;J. D. Lemay
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
30.Giant magnetoresistance imaging for NDE of conductive materials

机译：导电材料NDE的巨型磁阻成像
- 作者：E. S. Boltz;S. G. Albanna;A. R. Stallings;Y. H. Spooner;J. P. Abeyta
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
31.In-situ spectroscopic ellipsometry for the real time process control of plasma etching of silicon nitride

机译：原位光谱椭圆型测定法，用于氮化硅等离子体蚀刻的实时过程控制
- 作者：I.G.Rosen;T.Parent;B.Fidan;A.Madhukar;Materials Research Society
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
32.High-frequency stroboscopic x-ray topography under surface acoustic wave excitation

机译：表面声波激励下的高频频道X射线地形
- 作者：E. Zolotoyabko
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
33.Precise determination of thin metal film thickness with laser-induced acoustic grating technique

机译：具有激光诱导声光栅技术的精确测定薄金属膜厚度
- 作者：A.A.Maznev;M.J.Banet;M.Gostein;R.B.Hanselman;M.a.Joffe;R.Sacco;K.A.Nelson;Materials Research Society
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
34.Non-destructive dielectric assessment of water permeation in composite structures

机译：复合结构中水渗透的非破坏性介电评估
- 作者：P. Boinard;E. Boinard;R. A. Pethrick;W. M. Banks;R. L. Crane
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
35.Impedance spectroscopy investigation on the low-temperature degradation of tetragonal zirconia: influence of measurement conditions

机译：阻抗光谱研究四方氧化锆的低温降解：测量条件的影响
- 作者：A. P. Santos;R. Z. Domingues
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
36.Development of nondestructive method or prediction of crack inst ability

机译：开发非破坏性方法或裂缝INST能力的预测
- 作者：J.L.Schroeder;D.Eylon;E.B.Shell;T.E.Matikas;Materials Research Society
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
37.Monitoring silicon quality from diffusion furnaces using in-line measurements

机译：使用在线测量从扩散炉监测硅质量
- 作者：Matt Stoker;Kelvin Catmull;Greg Horner;Brian Letherer
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
38.IN situ spectroscopic ellipsometry study of the oxide etching and surface damaging processes on silicon under hydrogen plasma

机译：在氢等离子体下氧化物蚀刻和表面损伤过程的原位光谱椭圆形研究
- 作者：I. M. Vargas;J. Y. Manso;J. R. Guzman;B. R. Weiner;G. Morell
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
39.Development of nondestructive method for prediction of crack instability

机译：非破坏性裂缝不稳定预测的开发方法
- 作者：J. L. Schroeder;D. Eylon;E. B. Shell;T. E. Matikas
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
40.Image-guided failure assessment of porous materials

机译：多孔材料的图像导向失效评估
- 作者：M. Tantillo;R. Muller
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
41.Experimental simulation of contamination arising from Electro rocket engine-jet on surface of spacecraft units

机译：扫射机组射流污染污染的实验模拟
- 作者：A. Chirov;A. Nadiradze;V. Shaposhnikov;V. Egorov
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
42.IRS and ESR characterizations of nanocomposite thin films derived from alkanethiolates and gold nanoparticles

机译：纳米复合薄膜的IRS和ESR表征衍生的链烷醇酯和金纳米粒子
- 作者：W. X. Zheng;F. L. Leibowitz;M. M. Maye;D. C. Gilbert;D. C. Doetschman;C. J. Zhong
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
43.Characterization of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces

机译：氮化硅二氧化硅界面的表征
- 作者：M. L. Polignano;M. Alessandri;D. Brazzelli;B. Crivelli;G. Ghidini;R. Zonca;A. P. Caricato;M. Bersani;M. Sbetti;L. Vanzetti;G. C. Xing;G. E. Miner;N. Astici;S. Kuppurao;D. Lopes
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
44.Non-destructive evaluation of 304 stainless steels using a scanning hall-sensor microscope: visualization of strain induced austenite-phase breakdown

机译：使用扫描霍尔传感器显微镜的304个不锈钢的无损评估：应变诱导奥氏体相位分解的可视化
- 作者：A. Oota;K. Miyake;D. Sugiyama;H. Aoki
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
45.Scanning acoustic microscopy and x-ray diffraction investigation of near crack tip stresses

机译：扫描声学显微镜和近裂纹尖端应力的X射线衍射研究
- 作者：S. Sathish;R. W. Martin
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
46.Nondestructive characterization of corrosion protective coatings on aluminum alloy substrates

机译：铝合金基材上腐蚀防护涂层的无损特征
- 作者：J. Hoffmann;S. Sathish;M. Khobaid;N. Meyendorf;U. Netzelmann;T. E. Matikas
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
47.Nondestructive damage evaluation of electro-mechanical components using a hybrid, computational and experimental approach

机译：使用杂交，计算和实验方法的机电部件无损损伤评估
- 作者：C. Furlong;R. J. Pryputniewicz
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
48.In-situ monitoring of MOCVD of aluminum nitride by optical spectroscopies

机译：光谱法的原位监测氮化铝MOCVD
- 作者：S. C. Allen;H.H. Richardson
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年
49.Real-time optical characterization and control of heteroepitaxial Ga{sub}xIn{sub}(1-x)P growth by P-polarized reflectance

机译：异室沟{Sub} Xin {Sub}（1-x）P增长的实时光学表征和控制通过P偏振反射
- 作者：N. Dietz;K. Ito;I. Lauko;V. Woods
- 会议名称：《Symposium on nondestructive methods for materials characterization》 | 2000年