机译:多个SIC向量的测试模式:理论和在BIST方案中的应用
School of Electronic and Information Engineering, Xi''an Jiaotong University, Xi''an, China;
Built-in self-test; Clocks; Generators; Logic gates; Radiation detectors; Silicon carbide; Vectors; Built-in self-test (BIST); low power; single-input change (SIC); test pattern generator (TPG);
机译:Bist方案中多种测试模式的设计与分析
机译:输入和输出延迟故障的多个SIC向量的测试图生成减少
机译:用于两模式测试理论和设计算法的BIST测试模式生成器
机译:用于BIST方案的多个单输入更改测试向量
机译:多操作测量概念在心理测试反应模式中的应用。
机译:鲁棒M估计的新视角:有限样本理论及其在依赖相关的多重测试中的应用
机译:用于测试每时钟BIST方案的低成本测试图案发生器
机译:支持统计理论在操作测试设计与评估中的应用研究。附件B.多响应面优化在运行测试和评估中训练效果分析中的应用。