机译:在重复雪崩击穿测试下的汽车电源MOSFET的性能下降
Univ Texas Dallas Dept Elect & Comp Engn Richardson TX 75080 USA;
Univ Texas Dallas Dept Elect & Comp Engn Richardson TX 75080 USA;
Texas Instruments Inc Kilby Labs Santa Clara CA 95051 USA;
Univ Texas Dallas Dept Elect & Comp Engn Richardson TX 75080 USA;
Degradation; Logic gates; Switches; MOSFET; Stress; Resistance; Transportation; Current pulse; degradation; power MOSFETs; repetitive avalanche test;
机译:重复雪崩应力下双沟道SiC功率MOSFET性能下降的研究
机译:重复雪崩冲击下SiC功率MOSFET动态特性退化的综合研究
机译:SiC功率MOSFET的单脉冲雪崩鲁棒性和重复应力老化
机译:断开断开试验下功率MOSFET性能下降的调查
机译:蒙特卡洛研究了低功率深亚微米n-MOSFET中的热载流子退化和器件性能。
机译:日粮非淀粉多糖(NSP)和NSP降解酶复合物(Endo-PowerTM)补充对生长猪的生长性能肠道环境和全身免疫反应的影响。
机译:碳化硅功率MOSFET雪崩击穿鲁棒性的综合研究
机译:晶体硅模块的原位测量在湿热应力测试中经历电位诱导的退化以评估低光功率性能。