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机译:AG(111)上的薄Sn膜的生长用低能量电子衍射和X射线光电子能谱研究
Natl Cent Univ Dept Phys Taoyuan 32001 Taiwan|Natl Synchrotron Radiat Res Ctr Hsinchu 30076 Taiwan;
Natl Synchrotron Radiat Res Ctr Hsinchu 30076 Taiwan;
Natl Synchrotron Radiat Res Ctr Hsinchu 30076 Taiwan;
Thin films; Tin; Silver; Low-energy electron diffraction; X-ray photoelectron spectroscopy;
机译:用低能电子衍射和X射线光电子能谱研究Ag(111)上Sn薄膜的生长
机译:Si(111)上外延Ce_(1-x)Pr_xO_(2-δ)(x = 0-1)薄膜的温度依赖性还原:程序升温解吸,X射线衍射,X射线光电子能谱和拉曼研究
机译:Si(111)上外延Ce_(1-x)Pr_xO_(2-δ)(x = 0-1)薄膜的温度依赖性还原:程序升温解吸,X射线衍射,X射线光电子能谱和拉曼研究
机译:X射线衍射(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)研究了超薄Y
机译:通过X射线光电子衍射,扫描隧道显微镜和低能电子衍射研究了外延氧化铁在铂(111)上的生长。
机译:X射线光电子能谱揭示SrTiO3薄膜生长过程中的表面终止转化
机译:通过X射线光电子衍射,扫描隧道显微镜和低能电子衍射研究外延氧化铁在铂(111)上的生长
机译:通过X射线光电子衍射,扫描隧道显微镜和低能电子衍射研究铂(111)上外延氧化铁的生长