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机译:两步膜包络法测定光学膜的光学常数和不均匀性
School of Physics and OptoElectronics Technology, Fujian Normal University, Fuzhou 350007, PR China;
optical coatings; optical properties; optical constants;
机译:测定具有较大光学不均匀性的薄膜的光学常数(n和k)的方法
机译:基材温度对折射率的影响和采用两步膜法检测光学膜中的微小不均匀性
机译:基材温度对折射率的影响和两步膜法检测光学膜中的微小不均匀性
机译:使用包络法和逆合合成方法的光学常数和厚度测定薄膜:比较研究
机译:滤光片和薄膜中的结构不均匀性和各向异性;应用于光学存储介质
机译:基于先进优化包络法
机译:包络法测定硒薄膜的光学常数。