optical constants; thin film; envelope method; inverse synthesis;
机译:包络法测定微晶硅薄膜的厚度和光学常数
机译:包络法测定微晶硅薄膜的厚度和光学常数
机译:测定基材上薄膜的光学常数和厚度-包络法的替代方法
机译:使用包络法和逆合合成方法的光学常数和厚度测定薄膜:比较研究
机译:溶胶-凝胶法制备过渡金属氧化物薄膜的三阶非线性光学性质的研究
机译:湿化学法制备ZnO粉体和薄膜的合成光学和形貌研究
机译:薄膜光学常数测定方法的比较
机译:一种制备适用于光学研究的合金薄膜的方法