...
退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:包络法测定微晶硅薄膜的厚度和光学常数
获取外文期刊封面封底 >>
机译:测定基材上薄膜的光学常数和厚度-包络法的替代方法
机译:测量薄膜的光学常数和厚度的反射光谱的包络比方法
机译:使用包络法和逆合合成方法的光学常数和厚度测定薄膜:比较研究
机译:新型改进的棱镜波导耦合器系统测定碳纳米管薄膜的厚度和光学参数
机译:银纳米薄膜表面等离激元的厚度色散:透射法迭代椭偏法测定。
机译:根据透射率数据确定非晶硅膜的厚度和光学常数
机译:用相同的方法测量硅薄膜的膜厚度以及具有测得的硅薄膜膜厚度的半导体元件和半导体器件的方法
机译:形成微晶硅薄膜的方法和使用该方法制造薄膜硅太阳能电池的方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。