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周毅; 吴国松; 代伟; 李洪波; 汪爱英;
中国科学院宁波材料技术与工程研究所,宁波,315201;
光学常数; 光谱型椭偏仪; 吸收薄膜; 透射率;
机译:DC溅射光学常数衍生的ITO,TiO 2 CE:INF>和TIO 2 CE:INF>:表征NB薄膜 通过分光光度法和光电器件的光谱椭偏测量
机译:低入射角光谱椭偏法精确测定织构的SnO_(2)的光学常数
机译:通过光谱椭偏测量和分光光度法测量的CH3NH3PBI3的高能光学转变和光学常数
机译:椭偏厚度确定InP上应变AlAs和InAs层的光学常数
机译:Ag和ZnO薄膜及其界面在薄膜光伏中的光谱椭偏分析研究。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:直流溅射的光学常数来源于ITO,TiO2和TiO2:Nb薄 用分光光度法和光谱椭偏仪测定的薄膜 光电器件
机译:椭偏法同时测定极薄膜的折射率和厚度
机译:光谱椭偏仪通过将偏振光照射到物体上来精确测量基材的薄膜或光学常数的厚度
机译:使用封闭式公式和反射椭偏法确定吸收介质中吸收膜吸收基底系统的基底光学常数和膜厚的方法和智能设备
机译:椭偏测定。多层样品的连续层的材料参数的确定-通过连续去除层,连续椭偏测量以及厚度,折射率和吸收系数的计算。从测试值
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