首页> 外文期刊>Поверхность Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования >ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРНОГО СОВЕРШЕНСТВА ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУР InAlGaPAs/GaAs
【24h】

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРНОГО СОВЕРШЕНСТВА ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУР InAlGaPAs/GaAs

机译:薄膜InAlGaPAs / GaAs异质结构的结构完美化研究

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

The influence of growing conditions on structural perfection of thin-film InAlGaPAs/GaAs heterostructures is discussed. Main parameters of the growing process are determined: the growth temperature and its gradient, the thickness of the liquid zone, the matching of the lattice parameters and coefficients of thermal expansion of the layer and substrate, and density of dislocations in the substrate.%Обсуждается влияние условий выращивания на структурное совершенство тонкопленочных гетеро-структур InAlGaPAs/GaAs. Определены основные параметры выращивания: температура роста и ее градиент, толщина жидкой зоны, согласование параметров решетки и коэффициентов термического расширения слоя и подложки, плотность дислокаций в подложке.
机译:讨论了生长条件对薄膜InAlGaPAs / GaAs异质结构的结构完善的影响。确定生长过程的主要参数:生长温度及其梯度,液体区域的厚度,晶格参数与层和基底的热膨胀系数的匹配以及基底中位错的密度。生长条件对InAlGaPAs / GaAs薄膜异质结构的影响。确定了主要的生长参数:生长温度及其梯度,液体区域的厚度,晶格参数与层和基底的热膨胀系数的匹配以及基底中的位错密度。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号