机译:减少采用双金属漏极的无掺杂晶体管的关态漏电流
Aligarh Muslim Univ Zakir Husain Coll Engn & Technol Elect Engn Dept Aligarh 202002 Uttar Pradesh India;
charge plasma; dual metal drain; dopingless; workfunction engineering; short-channel effects;
机译:减少采用双金属排水管的多拔晶体管中的断态漏电流
机译:碳纳米管场效应晶体管的源/漏掺杂水平的优化,以在保持理想导通状态电流的同时抑制截止状态漏电流
机译:高迁移率(> 30cm〜2V〜(-1)s〜(-1))和低源/漏寄生电阻In-Zn-O BEOL晶体管,超低<10-20 A /μm〜(-1)截止状态漏电流
机译:几乎掺杂的绝缘体内硅连接晶体管,用于降低断开状态漏电流
机译:MOS晶体管的深亚微米漏极电流和电荷模型。
机译:有源层厚度不同的非晶InGaZnO薄膜晶体管中漏极电流应力引起的不稳定性
机译:采用高应力siNx表面钝化层的alGaN / GaN高电子迁移率晶体管中的低断态漏电流