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大阪大学産業科学研究所金対応の焼結接合技術GaN実装に貢献

机译:大阪大学科学产业研究所对GaN封装的贡献,GaN封装是一种金的烧结结合技术

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摘要

大阪大学産業科学研究所(大阪府茨木市美穂ヶ丘8-1、06-6877-5111)の菅沼克昭教授らは、金電極に対応した新たな焼結接合技術を開発した。低温、無加圧での接合によりGaNデバイスの高機能実装に貢献できる。菅沼教授は、SiCをはじめとした次世代パワーデバイス実装技術として、200~250℃の低温と低加圧により接合が可能な銀接合技術を提案し、実用化が始まっている。ただ、この接合方法は銀同士を加熱した際に界面がナノ粒子化して焼結する独自の反応を応用しており、シリコンやGaNなどの電極で主流の金には使えないという問題があった。
机译:大阪大学科学和工业研究所的Katsuaki Suganuma教授等人(大阪府茨城市三穗丘8-1,大阪,06-6877-5111)开发了一种新的用于金电极的烧结结合技术。低温无压力键合可有助于GaN器件的高性能安装。作为包括SiC在内的下一代功率器件安装技术,Suganuma教授提出了一种银键合技术,该技术可在200至250°C的低温和低压下进行键合,并已开始投入实际使用。但是,该结合方法利用独特的反应,其中当加热银时界面变成纳米颗粒并烧结,并且存在不能将诸如硅和GaN的电极用作主流金的问题。 ..

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    《半導体産業新聞》 |2017年第2262期|5-5|共1页
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