机译:通过热线化学气相沉积(HW-CVD)方法沉积氢化非晶硅(a-Si:H)膜:衬底温度的作用
机译:薄膜非晶态固体的内在键合缺陷:非晶硅(a-Si),氢化非晶硅(a-Si:H),非晶硒(a-Se)和非晶硒-砷合金(a-AsxSe1-x )
机译:通过PECVD获得的用于硅太阳能电池的a-Si:C:H和a-Si:N:H薄膜
机译:用于异质结太阳能电池应用的PECVD a-Si:H(i)/ a-Si:H(n)表面钝化的原位等离子体监测
机译:PECVD氢化非晶硅膜和HWCVD氢化非晶硅膜的质子NMR研究。
机译:在退火的氢化非晶硅层中形成气泡
机译:HWCVD和pECVD a-si:H薄膜晶化过程中晶粒成核与晶粒长大的比较