机译:伯克利模型预测的热载体寿命
National Microelectronics Research Centre, 'Lee Maltings', Prospect Row, Cork, Ireland;
hot-carrier; reliability; MOS;
机译:在宽温度范围内,取决于偏置的热载流子可靠性和寿命
机译:自加热多鳍SOI n沟道FinFET载流子退化的可靠性建模与分析
机译:具有真空栅极电介质的圆柱形环绕双栅极(CSDG)MOSFET的建模和仿真,以改善热载流子的可靠性和RF性能
机译:伯克利热载流子可靠性模型的预测能力评估
机译:基于AFD的信号线电迁移可靠性建模和寿命预测。
机译:基于类胡萝卜素的着色可预测雄性鸟类的寿命和寿命,但睾丸激素会破坏信号的可靠性
机译:在宽温度范围内偏置相关的热载流子可靠性和寿命