机译:半导体异质结的准粒子能带偏移的广义标记方法
Max-Planck-Institut fuer Eisenforschung, Max-Planck-Strasse 1, D-40227 Duesseldorf, Germany;
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electron states at surfaces and interfaces; excited states: methodology; excited states: methodology;
机译:一种测量半导体异质结带偏移的独特光发射方法
机译:一种测量半导体异质结带偏移的独特光发射方法
机译:不同半导体之间异质结接口的混合带偏移计算
机译:半导体异质结处的带偏移工程
机译:异质结带偏移的原位光发射光谱表征参见使用统计
机译:X射线光电子能谱研究原子层沉积Al2O3 / Zn0.8Al0.2O异质结中的能带偏移测量
机译:外延NBN / GaN超导体/半导体异质结中的动量分辨的电子带结构和偏移