机译:在半绝缘SiC衬底上的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管中,碳掺杂对击穿,电流崩塌和动态导通电阻恢复的作用
Department of Engineering 'Enzo Ferrari' University of Modena and Reggio Emilia via P. Vivarelli 10 41125 Modena Italy;
Department of Sciences and Methods for Engineering (DISMI) and EN&TECH Center University of Modena and Reggio Emilia via G. Amendola 2 42122 Reggio Emilia Italy;
breakdown; C-doping; current collapse; dynamic on-resistance recovery; GaN high electron mobility transistors; impact ionization;
机译:半绝缘6H-SiC衬底上的高功率密度0.25μm栅长AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管
机译:结合等离子体增强原子层沉积栅极电介质和原位SiN覆盖层,可降低200mm Si衬底上AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管的阈值电压漂移和动态导通电阻色散
机译:具有非常薄的SiO_2栅极电介质的Si(111)衬底上的AlGaN / GaN绝缘栅高电子迁移率晶体管的直流性能和电流崩溃
机译:MOCVD在半绝缘SIC基板上生长的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的缺陷和表面性能研究
机译:微金属应用中通过金属有机气相外延生长在6H-SiC(0001)衬底上的GaN和AlGaN的生长,掺杂和表征。
机译:具有再生欧姆接触的半绝缘Ammono-GaN衬底上的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管
机译:碳掺杂对半绝缘SiC基板上的AlGaN / GaN高电子迁移晶体管中的击穿,电流塌陷和动态导通恢复的作用