机译:AlN /(AlN)_x(SiC)_(1-x)/ 4H-SiC异质结构的界面性质
Kansas State University, Department of Chemical Engineering, Durland Hall, Manhattan, KS 66506-5102, USA;
diffusion; interface formation; transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.); growth from vapor;
机译:(SiC)_(1-x)(AlN)_x / SiC各向异性异质结构的电学性质
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机译:SiC /(SiC)_(1-x)(AlN)_x异质结构的光学性质研究
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