机译:使用基于差分的X射线反射率数据的增强傅里叶变换确定多层厚度
Department of Materials Science and Engineering, University of California, Los Angeles 420 Westwood Plaza, Los Angeles, CA, USA Northrop Grumman Space Technology, Redondo Beach, CA, USA;
Northrop Grumman Space Technology, Redondo Beach, CA, USA;
low-dimensional; mesoscopic; and nanoscale systems: structure and nonelectronic properties;
机译:使用X射线反射率数据的滑窗傅立叶变换确定层序
机译:利用小角度X射线散射数据的傅里叶变换直接测量伊利石颗粒厚度
机译:利用改进的X射线反射率数据的小波变换确定沉积在Si表面上的Gd膜的界面粗糙度
机译:利用X射线反射率的傅里叶变换厚度测量薄膜和多层的测量
机译:通过傅立叶变换红外光谱法定性和定量测定有机化合物的数据分析策略。
机译:将微电极记录(MER)数据转换为快速傅里叶变换(FFT)的效果以确定STN-DBS的主要目标核
机译:利用小角度X射线散射数据的间接傅里叶变换得到胶体2:1铝硅酸盐的厚度和表面特征