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机译:波长扫描干涉法中使用小波变换的薄膜厚度轮廓测量
School of Mechanical and Aerospace Engineering, Seoul University, Seoul, South Korea;
thin-film; wavelet; thickness; wavelength; interferometry;
机译:基于小波变换在光谱分辨的白光干扰法中快速可靠地测量薄膜厚度曲线
机译:白光扫描干涉法测量透明薄膜层的厚度轮廓
机译:基于连续小波变换的光谱干涉测量3-D表面轮廓测量
机译:通过光谱分辨的相移干扰法测定透明薄膜层的厚度测量
机译:使用协方差小波变换(CWT)从基于地面的风廓线仪和激光雷达测量中确定行星边界层高度。
机译:使用离散平稳小波变换从蛋白质谱中鉴定生物标志物的数据挖掘方法
机译:薄膜厚度曲线及其分散白光干涉测量的折射率测量
机译:一种改进的薄膜厚度测量方法