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【2h】

Thin-film thickness profile and its refractive index measurements by dispersive white-light interferometry

机译：薄膜厚度曲线及其分散白光干涉测量的折射率测量

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Young-Sik Ghim; Seung-Woo Kim;
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年度 2006
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2. Dispersive white-light spectral interferometry including the effect of thin-film for distance measurement [J] . Hlubina P, Ciprian D, Lunacek J Optik: Zeitschrift fur Licht- und Elektronenoptik: = Journal for Light-and Electronoptic . 2007,第7期

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