机译:基于辐照石墨烯的系统中常见缺陷的电子传输特征
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (CNR-IMM), Z.I. VIII Strada 5, 95121 Catania, Italy;
Dipartimento di Fisica e Astronomia, Universita di Catania, Via Santa Sofia 64, 95123 Catania, Italy;
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (CNR-IMM), Z.I. VIII Strada 5, 95121 Catania, Italy;
graphene; vacancies; di-vacancies; stone-wales; hydrogen; conductance;
机译:石墨烯和其他2D系统中1D缺陷的电子传输性能
机译:低介电常数线路介电系统后端的目标氢化非晶SiC膜中的缺陷和电子传输
机译:低介电常数的线路介电系统后端的目标氢化非晶SiC薄膜中的缺陷和电子传输
机译:没有常见电力签名的系统低DPPM可靠性缺陷的研究
机译:帕金森氏病大脑和动物模型黑质纹状体系统中基因表达特征的鉴定和比较:常见病理变化的证据。
机译:X射线吸收光谱法的熔融特性:二元Fe–CFe–OFe–S和Fe–Si系统中的常见特征
机译:CVD生长的单层MoS2单个域中的缺陷介导的传输和电子辐照效应