机译:使用TRIM背散射数据模拟精细聚焦飞行时间卢瑟福背散射光谱
Univ Appl Sci, Magdeburg, Germany;
Osaka Univ, Grad Sch Engn Sci, Suita, Osaka, Japan;
Osaka Univ, Grad Sch Engn Sci, Suita, Osaka, Japan;
Rutherford; Backscattering; Spectrometry; Electrical field; Simulation; Time-of-flight;
机译:单事件飞行时间卢瑟福背散射光谱法中的三次电子
机译:三级电子在单一事件飞行时间卢瑟福背散射光谱法
机译:通过单事件三维飞行时间卢瑟福背散射光谱法中的二次电子控制,提高深度分辨率和检测效率
机译:Rutherford对光学应用的二色性系统的光谱谱(RBS)分析
机译:使用原子序数对比扫描透射电子显微镜和卢瑟福背散射光谱技术对硒化镉纳米晶体系统进行原子能级表征。
机译:卢瑟福反向散射光谱显示金属-有机骨架中合成后接头交换的均匀分布
机译:任意原子结构对卢瑟福背散射光谱的仿真
机译:使用组合弹性反冲检测和卢瑟福/增强卢瑟福背散射光谱法进行材料分析