机译:单事件飞行时间卢瑟福背散射光谱法中的三次电子
Osaka Univ, Grad Sch Engn Sci, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 5608531, Japan;
Magdeburg Stendal Univ Appl Sci, Dept Engn Sci & Ind Design, Breitscheidstr 2, D-39114 Magdeburg, Germany;
Osaka Univ, Grad Sch Engn Sci, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 5608531, Japan;
Osaka Univ, Grad Sch Engn Sci, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 5608531, Japan;
Rutherford backscatttering spectrometory (RBS); Nuclear nanoprobe; Time-of-flight (ToF); Focused ion beam (FIB); Three-dimensional analysis; Non-destructive analysis;
机译:三级电子在单一事件飞行时间卢瑟福背散射光谱法
机译:通过单事件三维飞行时间卢瑟福背散射光谱法中的二次电子控制,提高深度分辨率和检测效率
机译:使用TRIM背散射数据模拟精细聚焦飞行时间卢瑟福背散射光谱
机译:电子显微镜和Rutherford与He〜+植入的6h SiC样品的光谱分析
机译:通过飞行时间二次离子质谱,反射吸收傅里叶变换红外光谱和高分辨率电子能量损失光谱研究聚(二甲基硅氧烷)Langmuir单层膜中的聚合物三级结构。
机译:卢瑟福反向散射光谱显示金属-有机骨架中合成后接头交换的均匀分布
机译:欧格电子能谱,X射线光电子能谱和拉特福德反散射谱(热电池)研究的锂及其化合物的表面反应和表面分析。
机译:重离子卢瑟福背散射光谱法(HIRBs)用于电子材料的近表面表征