机译:用于半导体探测器读出的新微电子技术的辐射硬度趋势
Universita di Bergamo, Dipartimento di Ingegneria, Viale Marconi 5, 24044 Dalmine, Italy,INFN, Sezione di Pavia, Via Bassi 6, 27100 Pavia, Italy;
CMOS; Readout electronics; Noise; Device scaling; Radiation hardness;
机译:压缩重子物质实验中用于弹丸观众检测器的雪崩光电二极管的辐射硬度研究
机译:用于ATLAS内部探测器光学读数的光电组件的辐射硬度
机译:设计0.18- / splμm/ m CMOS产生的模拟检测器读出电路的辐射硬度观点
机译:双冗余设计方法,以提高像素探测器读数IC中的辐射硬度
机译:改进的N型4H-SiC外延层辐射探测器和前端读出电子设备的噪声分析
机译:低温下红外图像传感器读出集成电路单事件效应辐射硬度保证的更新
机译:用于ATLAS半导体跟踪器光学读出的光电二极管的辐射硬度和寿命研究