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Belle Ⅱ pixel detector: Performance of final DEPFET modules

机译:BelleⅡ像素检测器:最终DEPFET模块的性能

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摘要

A DEpleted P-channel Field Effect Transistor (DEPFET) based pixel detector was developed for the Belle II VerteX Detector (VXD). It is designed to achieve a good impact parameter resolution better than 15 μm at the very high luminosity conditions of this experiment. In the first half of 2018 four final production modules have been deployed in the commissioning run of the detector and their performance is discussed.
机译:针对百丽II VerteX检测器(VXD)开发了基于耗尽P沟道场效应晶体管(DEPFET)的像素检测器。它旨在在此实验的非常高的发光度条件下实现优于15μm的良好冲击参数分辨率。在2018年上半年,探测器的调试运行中已部署了四个最终生产模块,并讨论了它们的性能。

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