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Characterization and optimization of the prototype DEPFET modules for the Belle II Pixel Vertex Detector

机译:Belle II像素顶点检测器原型DEpFET模块的表征和优化

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摘要

Der Elektron-Positron-Speicherring KEKB wurde von 1999 bis 2010 am Hochenergie- und Beschleunigerforschungszentrum KEK in Tsukuba (Japan) betrieben, wobei die Schwerpunktsenergie hauptsächlich dem Anregungszustand des Y(4S)-Teilchens (10.58 GeV) entsprach. KEKB erreichte während seiner Betriebszeit eine integrierte Luminosität von 1041 fb^-1. Mit dem Belle-Detektor wurden die Zerfälle von B-Mesonen untersucht, die die Theorie über den Ursprung der CP-Verletzung im Standardmodell von Kobayashi und Maskawa bestätigten; dafür erhielten beide im Jahr 2008 den Nobelpreis. Der Speicherring KEKB wird zu SuperKEKB erneuert, um Antworten auf die vielen offenen Fragen des Standardmodells und möglicherweise „Neue Physik“ jenseits des Standardmodells zu finden. Die Teilchenstrahlen werden auf etwa 50 Nanometer am Wechselwirkungspunkt kollimiert (“nano-beam scheme“), damit die weltweit höchste instantane Luminosität von KEKB um einen weiteren Faktor 40 auf 8x10^35 cm^-2 s^-1 gesteigert werden kann. Die (physikalischen) Ziele des Projekts sind die präzise Vermessung der CP-Verletzung und die Suche nach seltenen oder sogar „verbotenen“ Zerfällen von B-Mesonen, um mögliche Abweichungen vom Standardmodell zu finden. Verschiedene Komponenten müssen von Belle erneuert werden (Belle II), um die hohe instantane Luminosität von SuperKEKB zu bewältigen. Nicht nur die Anzahl der Ereignisse nimmt zu, sondern auch der Untergrund, insbesondere der unvermeidbare Zwei-Photonen-Untergrundprozess. udMit einem Siliziumvertexdetektor werden im Experiment die Zerfallsvertices der B-Mesonen analysiert. Der Vertexdetektor soll so nah wie möglich um das Strahlrohr platziert werden, damit Extrapolationsfehler der Zerfallsvertices minimiert werden. Da ein Siliziumstreifendetektor, wie er in Belle benutzt wurde, den hohen Untergrund im geringen Abstand zum Strahlrohr nicht bewältigen kann, wird ein neuartiger Pixel-Detektor (PXD) installiert, der aus monolitischen DEPFET (DEPletierter p-Kanal Feld Effekt Transistor) Pixel-Sensoren besteht. Der DEPFET-Sensor kann bis zu 75 um gedünnt werden, um die Mehrfachstreuung zu minimieren, besitzt ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis, verfügt über eine intrinsische Positionsausflösung von 15 um, unterstützt schnelle Auslesezeiten von weniger als 20 us und hat einen geringen Stromverbrauch. Der PXD besteht insgesamt aus 40 Sensor-Modulen, wobei jedes mit 14 ASICs für die Steuerung und Auslese bestückt ist. Die Module werden in zwei Lagen um das Strahlrohr montiert. udDie vorliegende Arbeit fokussiert sich auf die Charakterisierung und Optimierung der ersten Prototypen der finalen PXD-Module. Die kombinierte Kontroll- und Ausleseelektronik wurde auf Prototyp-Modulen untersucht, verbessert und optimiert: Sechs Switcher pro Modul schalten die Pixelzeilen nacheinander ein (rolling-shutter Modus / zeilenweiser Auslesemodus), um die signalverstärkten Drainströme der DEPFET-Pixel zu messen und die Pixelzelle zurückzusetzen. Insgesamt messen 1000 ADCs auf jedem Modul die Drainströme mit einer PXD-Auslesefrequenz von 50 kHz. Damit die Pixel korrekt angesteuert werden, wurden Steuerungssequenzen für die Switcher simuliert und auf den Prototyp-Modulen getestet. Die systemrelevanten Aspekte, wie die inter-ASIC Kommunikation, Kontrollsequenzen und Synchronisationsprobleme wurden eingehend untersucht und optimiert. Zusätzlich wurden Messungen mit radioaktiven Quellen und Lasern durchgeführt, um die optimalen Operationsspannungen für verschiedene Betriebsmodi zu bestimmen.udDer zeilenweise Auslesemodus von 20 us erscheint problematisch, wenn ein kurzzeitiger, periodischer Untergrund auftritt, beispielsweise während der Aufstockungsinjektion der Teilchenpakete in SuperKEKB. Um dieses Problem zu lösen, wurde ein neuer Arbeitsmodus vorgeschlagen und untersucht, welcher einen „gated“ Betriebsmodus des Detektors ermöglicht. Dies schaltet den Pixel-Vertex-Detektor für eine kurze Zeitspanne 1-2 us blind, während der hohe Untergrund erwartet wird. Ein Prototyp-Modul wurde im „Gated Mode“ betrieben; Ursachen von auftretenden Problemen wurden ausfindig gemacht. Die daraus resultierenden Verbesserungen trugen dem finalen Modul-Layout bei. Außerdem wurden zwei verschiedene Arten von Prototyp-Modulen erfolgreich in einer Strahltest-Kampagne betrieben. Die Ladungs-Cluster-Verteilungen, Positionsauflösung und Effizienzen wurden studiert, wobei deutlich wird, dass sich die Sensoren gut für den Betrieb in Belle II eignen.
机译:KEKB电子-正电子存储环于1999年至2010年在日本筑波的KEK高能和加速器研究中心运行,其聚焦能主要对应于Y(4S)粒子(10.58 GeV)的激发态。 KEKB在其工作时间内实现了1041 fb ^ -1的综合发光度。用Belle探测器检查了B介子的衰变,这证实了Kobayashi和Maskawa在标准模型中CP损伤起源的理论。他们俩都获得了2008年诺贝尔奖。 KEKB存储环将更新为SuperKEKB,以便找到对标准模型以及标准模型之外的许多“新物理学”的未解决问题的答案。粒子束在相互作用点被准直到约50纳米(“纳米光束方案”),因此KEKB在全球范围内的最高瞬时光度可以进一步提高40到8x10 ^ 35 cm ^ -2 s -1。该项目的(物理)目标是精确测量CP违规,并寻找B介子的罕见甚至“禁止”衰变,以发现与标准模型的可能偏差。为了应对SuperKEKB的高瞬时亮度,必须用Belle(Belle II)代替各种组件。不仅事件数量增加,而且背景也增加,尤其是不可避免的两光子背景过程。 ud使用硅顶点检测器,在实验中分析了B介子的衰减顶点。顶点检测器应放置在尽可能靠近束管的位置,以使衰减顶点的外推误差最小。由于硅条检测器(例如Belle中使用的硅条检测器)无法在与束管短距离的情况下应付高背景,因此安装了一种新型的像素检测器(PXD),该检测器由单片DEPFET(DE球化场效应晶体管)像素传感器组成组成。 DEPFET传感器的厚度可薄至75 µm,以最大程度地减少多重散射,具有很高的信噪比,固有位置分辨率为15 µm,支持小于20 µs的快速读取时间,并且功耗低。 PXD总共包含40个传感器模块,每个模块都有14个ASIC用于控制和读出。模块安装在喷嘴周围的两层中。本工作着重于最终PXD模块的第一批原型的特性和优化。对原型模块上的控制和读出电子器件的组合进行了检查,改进和优化:每个模块六个切换器一个接一个地接通像素行(滚动快门模式/逐行读出模式),以测量DEPFET像素的信号增强型漏极电流并复位像素单元。每个模块上总共有1000个ADC,以50 kHz的PXD读出频率测量漏极电流。为了确保正确控制像素,在原型模块上模拟并测试了切换台的控制顺序。详细检查并优化了与系统相关的方面,例如ASIC间通信,控制序列和同步问题。另外,为了确定不同工作模式下的最佳工作电压,还使用了放射源和激光进行了测量。 Ud如果出现短期的周期性背景,例如在SuperKEKB中的粒子包加注过程中,逐行读取模式20 us会出现问题。为了解决这个问题,提出并研究了一种新的工作模式,该工作模式使检测器可以“门控”运行。这会使像素顶点检测器在1-2 us的短时间内失明,而预期会有高背景。原型模块以“门控模式”运行;已经确定出现问题的原因。由此产生的改进有助于最终模块的布局。此外,在辐射测试活动中成功操作了两种不同类型的原型模块。对电荷簇的分布,位置分辨率和效率进行了研究,很明显,这些传感器非常适合在Belle II中运行。

著录项

  • 作者

    Müller Felix;

  • 作者单位
  • 年度 2017
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