机译:含UFC和PFC的等离子体中高纵横比接触孔蚀刻的比较研究
DuPont Korea Inc., Seoul 135-719, Korea;
contact hole etching; unsaturated fluorocarbons; perfluorocarbons; bowing; contact resistance;
机译:磁感应耦合等离子体中高纵横比接触孔的反应性离子刻蚀滞后研究
机译:Cl_2,CI_2 / O_2和CI_2 / N_2感应耦合等离子体工艺刻蚀InP中高纵横比光子晶体孔的比较研究
机译:电容耦合等离子体源在高深宽比接触孔蚀刻中的轮廓控制
机译:等离子体蚀刻在玉米棒中概念中的数量级以宽高比变化
机译:用蚀刻和沉积法对二氧化硅接触孔的等离子体蚀刻轮廓进行建模。
机译:金属辅助蚀刻在硅纳米线上产生的电接触:一种比较方法
机译:Cl2,Cl2 / O2和Cl2 / N2电感耦合等离子体工艺刻蚀InP中高纵横比光子晶体孔的比较研究