机译:通过光学无损检测技术评估商品碳化硅晶片的质量
Advanced Inverter Laboratory, R&D Association for Future Electron Devices, c/o Power Electronics Research Center (PERC), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Central 2, Umezono 1-1-1, Tsukuba Ibaraki 305-8568, Japan;
A1. Characterization; A1. Defects; A1. Optical microscopy; A1. Substrates; A1. Surface structure; B2. Semiconductor silicon compounds;
机译:无损光谱技术在鱼类质量和安全性评估与检查中的应用。
机译:电子组件质量控制的无损检测检验原理和X射线评估技术
机译:CFRP / CFRP堆栈使用光学和超声波非破坏性检查比较CFRP / CFRP堆栈的比较
机译:基于激光的光学表面检查系统对碳化硅晶片的成像和计量
机译:杂交硅式碳化硅晶片的制造与表征
机译:碳化硅-碳化硅纳米粒子在硅晶片表面的生长和自组装成蠕虫状纳米杂化结构。
机译:测量和模拟硅晶片质量特性的鲁棒技术,使MEMC硅晶片的太阳能电池电气性能预测。合作研发最终报告,CRADA号码CRD-11-438