surface defect; laser; epitaxy; substrate; micropipe; topography; 4H-SiC;
机译:通过光学无损检测技术评估商品碳化硅晶片的质量
机译:使用200纳米以下波长光学系统的晶圆检查工具的改进图像分辨率
机译:用于快速测量正面和背面准分子激光结晶制造的多晶硅表面粗糙度的低成本光学检测系统
机译:基于激光的光学表面检查系统对碳化硅晶片的成像和计量
机译:杂交硅式碳化硅晶片的制造与表征
机译:碳化硅-碳化硅纳米粒子在硅晶片表面的生长和自组装成蠕虫状纳米杂化结构。
机译:具有全视场光学相干性的快速次表面指纹成像 层析成像系统配备硅摄像头