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机译:完全耗尽的双栅FinFET中氧化物和界面陷阱电荷效应的Spice模型
Faculty of Electronic Engineering Nis University of Nis">(1);
Faculty of Electrical Engineering University of Banja Luka">(2);
Double-gate FinFET; Trapped charge; Spice model; Device aging; Circuit simulation;
机译:完全耗尽的双栅FinFET中氧化物和界面陷阱电荷效应的Spice模型
机译:基于双栅极和纳米线无结FET的基于电荷的建模,包括界面陷阱电荷
机译:基于物理的3D电位和阈值电压模型用于具有界面陷阱电荷的未掺杂三栅极FinFET
机译:全耗尽型双栅极FinFET的子电路模型,包括氧化物和界面陷阱电荷的影响
机译:金属氧化物半导体器件中硅/二氧化硅界面粗糙度和界面捕获电荷的低温测量。
机译:在存在随机界面陷阱的情况下16nm栅极高κ/金属栅极体FinFET器件的电特性波动
机译:错误:“在MOS2-SiO2接口处的电荷捕获及其对MOS2金属氧化物 - 半导体场效应晶体管的特性的影响”Appl。物理。吧。 106,103109(2015)