机译:通过微结构的电容电压测量来提取薄膜的杨氏模量的非线性和线性化算法
机译:Ni薄膜力学性能的纳米压痕测量:膜微结构和基底模量的影响
机译:铁电BiFeO_3薄膜中的类非线性反铁电电容-电压曲线
机译:用于纳米多孔低k介电薄膜的杨氏模量测量的非接触光学计量学
机译:通过测量微结构的电路行为来提取薄膜的高精度杨氏模量
机译:薄膜微观结构与非线性光学性质之间的关系。
机译:集成激光诱导的压电/差分共焦表面声波系统用于测量薄膜杨氏模量
机译:测量设置,用于测定高非线性薄膜非线性折射率的测量设定
机译:YBCO薄膜的非线性表面阻抗:器件中的测量,建模和影响