机译:位错对InN薄膜的电和电子传输性能的影响。 Ⅱ。载体的密度和流动性
机译:位错对InN薄膜的电和电子传输性能的影响。 Ⅰ。应力释放和位错网络的形成
机译:位错和载流子浓度在限制等离子体辅助分子束外延生长的InN薄膜的电子迁移率中的作用
机译:高载流子迁移率降低的氧化石墨烯薄膜器件的温度依赖性电传输特性
机译:金刚石和GaN薄膜中载流子传输的蒙特卡洛模拟:位错和电子相互作用的影响
机译:超导体的临界行为和碳纳米管薄膜的电传输性能。
机译:通过工程结晶和酸处理在oCVD PEDOT薄膜中具有高电导率和载流子迁移率
机译:聚合物电解质门控有机场效应晶体管:用于有机电子和试验台的低压,高电流开关,用于高电荷载体密度探测电气输送
机译:si,GaN和alGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEmT)晶片的非接触迁移率,载流子密度和薄层电阻测量。