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Analysis of broadband microwave conductivity and permittivity measurements of semiconductinq materials

机译:半导体材料的宽带微波电导率和介电常数测量分析

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摘要

We perform broadband phase sensitive measurements of the reflection coefficient from 45 MHz up to 20 GHz by employing a vector network analyzer with a 2.4 mm coaxial sensor which is terminated by the sample under test. While the material parameters (condu
机译:我们通过使用带有2.4 mm同轴传感器的矢量网络分析仪对45 MHz到20 GHz的反射系数进行宽带相位敏感测量,并通过被测样品进行端接。而材料参数(condu

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |2008年第8期| 1185-1192| 共8页
  • 作者

    Elvira Ritz; Martin Dressel;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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