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机译:4H-SiC金属氧化物半导体场效应晶体管的反型层载流子浓度和迁移率
Power Electronics R&D, Cree Inc., Durham, North Carolina 27703, USA;
rnPower Electronics R&D, Cree Inc., Durham, North Carolina 27703, USA;
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rnSemiconductor Electronics Division, NIST, Gaithersburg, Maryland 20899, USA;
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机译:4H–SiC金属氧化物半导体场效应晶体管中的反型层载流子浓度和迁移率
机译:4H-SiC金属氧化物半导体场效应晶体管中的反型层电子传输
机译:Si(100),(110)和(111)-表面上n型金属氧化物半导体场效应晶体管的库仑散射限制的反层迁移率的实验评估:电导质量与法线相关性的影响弥撒
机译:栅极湿法再氧化对在4H-SiC上制造的金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性和沟道迁移率的影响(0001)
机译:弹道单层黑色磷金属氧化物半导体场效应晶体管的紧凑型造型
机译:具有常关特性的反相沟道金刚石金属氧化物半导体场效应晶体管
机译:栅极湿式再氧化对4H-siC(000 1)上制备的金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性和沟道迁移率的影响