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机译:横向扩散金属氧化物半导体场效应晶体管的热载流子可靠性和退化指标研究
LDMOS; high voltage; hot carrier; reliability; gate current;
机译:最大衬底电流应力条件下高压横向扩散金属氧化物半导体场效应晶体管的热载流子降解率
机译:亚微米高压双扩散漏极金属-氧化物-半导体场效应晶体管的特性和热载流子可靠性的改进
机译:基于新型浅流隔离的高压横向扩散金属氧化物半导体场效应晶体管热载流子降解的直流电流新技术研究
机译:栅极湿法再氧化对在4H-SiC上制造的金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性和沟道迁移率的影响(0001)
机译:常规金属氧化物半导体场效应晶体管的离子液体模数研究
机译:具有增强的双栅极和部分P埋层的超低比导通电阻横向双扩散金属氧化物半导体晶体管
机译:通过信道热载波效应在金属氧化物半导体场效应晶体管中的沟通捕获/发射时间常数的改变