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【2h】

Alteration of Gate-Oxide Trap Capture/Emission Time Constants by Channel Hot-Carrier Effect in the Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor

机译：通过信道热载波效应在金属氧化物半导体场效应晶体管中的沟通捕获/发射时间常数的改变

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Xin Ju; Diing Shenp Ang;
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年度 2020
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