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机译:n型硅晶片中铁相关深能级的低温退火行为
SUMCO Corp, Div Technol, Adv Evaluat & Technol Dev Dept, Saga 8494256, Japan;
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机译:深层瞬态光谱和等时退火研究研究n型4H-碳化硅外延层的深层
机译:电子辐照n型4H碳化硅在室温至2000℃深能级缺陷之间的退火行为
机译:n型硅中RTA和后续退火引入的深能级的表征
机译:n型硅中由RTA和后续退火引入的深能级的表征
机译:通过4H-碳化硅的高温退火产生深的硼。
机译:通过硅烷化合物改性和快速热退火处理化学镀镍磷膜在硅片上的附着力
机译:电场辅助退火和离子植入N型4H-SIC中突出深层缺陷的形成
机译:硅中的低温辐射损伤 - 1:N型材料的退火研究