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机译:界面陷阱对n型金属氧化物半导体场效应晶体管中栅极感应的漏极泄漏电流的影响
Univ Hassan II Ain Chok, Fac Sci, Lab Phys Mat & Microelect, Casablanca, Morocco;
MOSFET; band to band tunnelling; band trap band; GIDL; interface traps; leakage current; HOT-ELECTRON STRESS; CHANNEL MOSFETS; HOLE INJECTION; P-MOSFETS; MODEL; DEGRADATION; CHARGE; GENERATION; SUBBREAKDOWN; BREAKDOWN;
机译:n型金属氧化物半导体场效应晶体管偏置对栅极感应漏极泄漏电流建模的影响
机译:热载流子对高k /金属栅极n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中栅极感应的漏极泄漏电流的影响
机译:高k栅极电介质金属氧化物半导体场效应晶体管的栅极感应漏极泄漏电流中的随机电报噪声模型
机译:非对称源漏结构改善金属氧化物半导体场效应晶体管的漏电流特性
机译:碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管的电介质和界面工程
机译:基于GaMnAs的垂直自旋金属氧化物半导体场效应晶体管中的侧栅电场引起的大电流调制和隧穿磁阻变化
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