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Material, device, and step independence of the quantized Hall resistance

机译:霍尔电阻量化的材料,器件和阶跃独立性

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摘要

We report comprehensive high-precision direct and indirect comparisons of quantized Hall resistances in MOSFET and GaAs heterostructures, for steps 1, 2, 3, 4, 6, and 8. We find no evidence for a step, sample-source, or material dependence of the quantized Hall resistance at the level of 3.5 parts in 10/sup 10/.
机译:我们报告了针对步骤1、2、3、4、6和8的MOSFET和GaAs异质结构中量化霍尔电阻的高精度的直接和间接的全面比较。我们没有发现有关步骤,样品来源或材料依赖性的证据。在10 / sup 10 /中3.5的水平上的量化霍尔电阻的最大值。

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