机译:模拟锗硅固溶体晶体中铝和铟杂质的浓度分布
Azerbaijan Acad Sci, Inst Phys, Pr Javida 33, AZ-1143 Baku, Azerbaijan;
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controlled doping; semiconductor materials;
机译:熔体生长的Ge-Si固溶体晶体中铝和铟杂质的分布
机译:铝双晶固体中铅杂质向晶界偏析的原子建模
机译:铝水化学和固液平衡对高溶液浓度和温度的热力学建模。 I.酸性H-Al-Na-K-Cl-H2 sub> O系统的温度范围为0至100°C
机译:硅局部氧化时合金杂质的浓度分布再分布建模
机译:从界面陷阱处复合电流的线形中提取亚微米MOS晶体管中的沟道杂质浓度分布
机译:薄膜晶体管溶液处理氧化锌薄膜中的低浓度铟掺杂
机译:Ti加入加入Tial 3 / sup>晶体中的溶解成纯铝液体和α铝固体溶液的晶粒细化所需的扩散时间