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【24h】

タイムデジタイザを用いたA-D変換器アーキテクチャ

机译:使用时间数字转换器的A-D转换器架构

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摘要

この論文では,微細半導体プロセスでの実現に適したA-D変換方式を提案する.入力信号を時間領域で測定するタイムデジタイザ回路を用いてA-D変換を行う.トラックホールド回路によってサンプリングされ保持された入力信号とサンプリングクロックに同期した基準余弦波信号をコンパレータ回路で比較し,サンプリングクロックエッジからコンパレータ出力の「0」から「1」または「1」から「0」へ遷移するまでの時間をタイムデジタイザ回路を用いて測定する.大部分の回路が低電圧動作可能なディジタル回路で構成できるため微細半導体プロセスでの実現に適している.また現在はタイムデジタイザ回路は数ピコ秒の分解能が実現可能であり,更に半導体の微細化が進むと時間分解能の向上が期待できるので,この方式ではアーキテクチャ回路の大幅な変更なしでA-D変換性能向上が見込める.提案するA-D変換器の基本動作と性能を確認する目的で,チップを試作し測定評価を行ったので報告する.
机译:在本文中,我们提出了一种适合在精细半导体工艺中实现的A-D转换方法。使用时间数字转换器电路执行A-D转换,该电路在时域中测量输入信号。比较器电路将跟踪保持电路采样并保持的输入信号与与采样时钟同步的参考余弦波信号进行比较,从采样时钟沿开始,比较器输出“ 0”至“ 1”或“ 1”至“ 0”使用时间数字转换器电路测量到过渡到的时间。大多数电路可以由可在低电压下运行的数字电路组成,因此它们适用于精细半导体工艺。目前,时间数字转换器电路可以实现几皮秒的分辨率,并且随着半导体的细化,可以期望时间分辨率的提高,因此,该方法可以在不大幅改变架构电路的情况下提高AD转换性能。可以预料的。为了确认所提出的A-D转换器的基本操作和性能,对芯片进行了原型设计,测量和评估。

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