机译:GaAs IC互连中金的电迁移和扩散
High Frequency & Optical Semiconductor Div., Mitsubishi Electric Corporation, Itami-shi, 664-8641 Japan;
electromigration; diffusion; GaAs IC; high temperature; high current density;
机译:金互连系统中的电迁移和电化学反应混合破坏机理
机译:GaAs p-i-n和肖特基势垒光电二极管高速A III B V片上光学互连的数值漂移扩散模拟
机译:单原子沿金链电迁移的扩散过程:第一性原理计算
机译:金互连系统中的电迁移和电化学反应混合机制
机译:非晶态铜-锆(金属玻璃,结晶,弛豫,银,金,固体,合金中的扩散)的扩散和热稳定性。
机译:Fcε受体在大鼠嗜碱性白血病细胞上的侧向电迁移和扩散:IgE结合的影响
机译:用于高速aIIIBV片上光学互连的Gaas p-i-n和肖特基势垒光电二极管的数值漂移 - 扩散模拟
机译:电迁移法测定Boom粘土中离子种类的扩散系数。第一次评估